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회로
(6) 그림4-9의 회로를 결선하고 입력 W, X, Y, Z의 변화에 따른 출력 F값을 측정하라.
그림4-9 간략화 회로
5. 참고자료
① TTL응용 실무 / Don Lancaster / 한국과학원 / 1977. 6. 30 / p.37 ~ p.119
② 디지털공학실험 / 이병기 / 喜重堂 / 1992. 2. 25 / p.29 ~ p.38
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실험방법
① Strain gage를 부착 방법에 따라 측정하고자 하는 외팔보에 접착제를 이용해 부착한다.
② 부착한 Strain gage를 Dynamic Amp.에 연결 할 수 있게 커넥터를 제작하고 Amp.에 연결한다.
③ PC에 설치되어있는 Strain Smart 프로그램을 실행하고 연
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실험에서 우리조가 받은 저항은 R1이 주주갈은으로 3×3×10(오차±10%) 330Ω이고, 두 번째 저항은 적적갈금 220Ω이다.
3. 실험절차
(1) 두 개의 R1과 R2 저항을 갖는 직렬저항 회로를 구성하여라.
(2) 함수발생기의 출력이 1kHz, 2Vp-p 인 정현파를 갖도
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. 여러 상품화 되어 나오는 센서들의 출력은 사용자가 몇 볼트에서 사용할지 잘 알 수 없으므로 오픈 컬렉터로 만들기도 한다.
TTL NAND/NOR 게이트
( 예 비 ) (1) 카르노맵을 이용한 함수의 간소화
1. 실험목적
2. 실험 방법, 이론 및 예측
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논리 0은 접지에 직접 연결하라. 표 4-2에 논리 출력과 측정된 전압을 기록하라. 출력 전압 측정에는 디지털 멀티미터를 사용하라.
2. NOR 게이트 하나에 대해서도 실험 순서 1을 반복하고 결과를 표 4-3에 기록하라.
3. 그림 4-4와 그림 4-5의 회로를
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