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논리게이트와 부울대수 3.1 논리연산과 논리게이트 3.2 부울대수 3.3 부울함수의 정규형 및 표준형 제4장 부울함수의 간소화 및 구현 4.1 개요 4.2 카노우 도표 방법 4.3 NAND 게이트와 NOR 게이트를 이용한 구현방법 제5장 조합논리회로 5.1 개요 5.2
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논리 수준을 논리 분석기나 논리 스코프에 필요한 장비 없이 바로 읽어낼 수 있도록 고안된 논리 시험 기구이다.
3) 브레드 보드(또는 디지털 실험 장치)
속칭 빵판 또는 빵틀로 전자회로의 시제품을 만드는 데 사용하고 재사용할 수 있는 무땜
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1. 2개의 D플립플롭으로 구성된 순서논리회로의 입력방정식이 다음과 같을 때 상태표, 상태도, 논리회로도를 작성하시오(단, X, Y는 입력이고 Z는 출력이다.) ※교재 6장(주관식문제 3번-교재 p254)
※교재 7장(주관식문제 6번-교재 p299)
※교
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회로(인버터 : Inverter)
6. NOR(NOT + OR)게이트 회로
7. LOGIC 테스터 제작
8. Gate IC의 호환
9. 풀업저항과 풀다운저항
10. 게이트회로의 단자 처리 방법
11. 오픈콜렉터(Open Collector)
(1) 논리 펄스 발생기
(2) 논리(Logic) 시험기
(3) 전자 자물쇠
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논리 0은 접지에 직접 연결하라. 표 4-2에 논리 출력과 측정된 전압을 기록하라. 출력 전압 측정에는 디지털 멀티미터를 사용하라.
2. NOR 게이트 하나에 대해서도 실험 순서 1을 반복하고 결과를 표 4-3에 기록하라.
3. 그림 4-4와 그림 4-5의 회로를
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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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디지털 오실로스크프 경우에는 어느 채널에 맞추든 상관이 없다.
■ 실험 순서
▶ S- R 래치
1. 그림 15-3의 S- R 래치를 구성하라. 여기서는 선이 SPDT(single-pole double-throw) 스위치의 역할을 대신한다. LED는 논리 모니터로 사용된다. TTL 논리에서는
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시험해 볼수 있었을 것이다.
이번 설계를 통하여 디지털 논리회로, 컴퓨터구조론 등을 바탕으로한 디지털 시스템에 대한 이론을 실제 시스템에 적용 해봄으로써, 자세한 부분까지는 아니지만 현실에서 존재하는 여러 임베디드 시스템의 개략
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디지털 논리에서 널리 응용되고 있다. MUX의 한가지 유용한 응용은 진리표로부터 직접 조합논리 함수를 구현하는 것이다. 예를 들어 실험 11에서는 그림 12-2(A)의 진리표로 정의되는 오버플로우 오류 감지회로가 필요했다. 1이 들어있는 각각의
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