|
사용하였던 회로도이다
2. 측정값
버퍼 실험 모형
측정 값
3. 고 찰
- 2주에 걸쳐서 OP-AMP 실험을 하였다. 조원들과 함께 예비보고서를 하고 결과 보고서를 작성을 하는데, 언제나 실험을 할 때 보면 Oscilloscope 측정이 서투르다, 그래서 그런지 이
|
|
|
는 직류발전기를 이용하거나 교류를 정류하는 방법으로 만든다.
전기의 이용면에서 보면 전지의 충전이나 전기분해의 전원, 전자회로의 전원 등은 직류가 아니면 안 되지만 전열이나 전등은 교류라도 무방하다. 변압기를 사용하는 송전선이
|
|
|
함수발생기의 주파수와 같이 동기 된 TTL파형은 20개의 TTL 부하로 이끌어 낼 수 있다.
* VCG(voltage controlled generator) : 주파수를 1000:1까지 넓은 범위의 주파수 변화를 가능하게 한다. 멀티테스터
1. 멀티테스터 사용법
오실로스코프
|
|
|
회로이론, 한경희외 공저, 형설출판사, 1991.2
2. 전기전자기초실험, 신정록외 공저, 한올출판사 1996.8
3. 전기회로, 최윤식외 공저, 의중당, 1996.2
4. 디지털전자회로, 김기남 저, 네트웍텔레콤 정보기술원, 1998.2
5. 집적회로, 이영훈 저, 상학당, 2002
|
|
|
Oscilloscope의 측정 조건 ( 크기, 시간 축)을 변화시키면서 관찰하시오.(우리조 : 2.5v 4khz)
4. breadboard training kit의 clock 파형을 oscilloscope로 관측하시오.
5. (1) breadboard training kit에서 사용한 동일한 회로 구성(1주차 직병렬 회로)를 구성한 후, funct
|
|
|
실험목적
함수 발생기와 오실로스코프의 사용법과 pspice 프로그램을 익힌다.
배경이론
-함수발생기
함수 발생기는 회로, 부품, 장치 등의 특성을 검사하기 위한 신호원으로 사용되는 장치이다. 함수 발생기는 기본적으로 정현파(sine
|
|
|
함수 발생기는 시험용 및 고장 진단용 신호를 발생하기 위해 사용된다. 발생된 신호를 회로의 전체 또는 일부분의 반응을 추적하기 위하여 사용한다. 그 외에, 발생된 신호가 교대로 다른 신호를 유발시켜 그 응답 파형을 오실로스코프로 관
|
|
|
되는 푸리에 변환과 RC회로의 충전 및 방전을 통해 설명할 수 있다. 이론에서 언급했듯이 전자가 충전되는 과정은 직선이 아니라 곡선 형태로 나타내기 때문에 사각파의 파형도 완벽한 사각형으로 나타나지 않는다.
6. 실험 결과
오실로스코프
|
|
|
보드로, 모든 전자기기가 그렇듯 마모가 되어 제대로 된 값이 도출되지 않았을 가능성이 있다.
8. 참고문헌
전자회로실험 P.69~83
데이터 시트 검색엔진 https://www.alldatasheet.co.kr/ 1. 실험 목표
2. 관련이론
2-1 기초 이론
2-2 소개
2-3 소자(부
|
|
|
전자회로의 신호회로에서 47kΩ에 이러한 전류가 흐르는 경우는 드물다(흐를 때는 1.63mA×47kΩ으로 되어 76.6V가 걸리는 경우이다)>> 1. 오실로스코프의 정의
2.디지털 오실로스코프의 특징
3.전면판넬 단자의 설명
1) 궤적회전(Trace Ro
|
|
메뉴펼치기
