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실험에 사용한 저항이 열을 받아 저항이 증가했기 때문이다. 실제 실험 시 저항을 교체하는 과정에서 저항이 과열되어 있다는 것을 알았다. 도체의 경우 온도가 올라가면 자체 저항자체의 저항 값이 다소 증가하기 때문에 이론값보다 전류가
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실험기(UTM)을 사용하여 원료 수지와 콤파운딩한 시료들이 인장강도를 측정하고 위에서 측정한 열적 특성과 비교 분석하라
<시료 1> PP : LDEP = 1 : 1
Sample no.
1
2
3
4
5
평균
하중(㎏)
9.85
9.8
10.15
9.95
9.50
9.85
<시료 2> PP : LDEP = 1 : 3
Sample no.
1
2
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측정할 때, 시료가 흘러내리지 않도록 할 수 있다는 장점이 있다.
그림. 17 θ - θ 축으로 주사 1. X-선의 발견
2. X-선의 발생 및 성질
3. X-선 회절실험의 특징
4. X-선 회절계의 일반적인 구조
5. X-선 회절실험 준비요령 및 주의사항
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측정할 때 찍은 자리에서 10배 떨어진 곳에서 찍어야 한다.
8. 참고문헌
-신소재기초 실험, 강원환경,생체 신소재 지역인재 육성사업단, (주)북스힐, p.7~40.
-http://web.edunet4u.net/Users/inja/heat/heat-treat-2.htm
-http://cafe.naver.com/gaury.cafe?iframe_url=/ArticleRead.
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실험적으로 측정 가능한 이온전류와 전체전류와의 차가 이차전자에 의한 전류가 되고 이차전자방출계수를 결정하는 수식에 의해, 실험적인 이차전자방출계수 γ는 다음과 같이 계산할 수 있다.[ ]
γ-FIB 장치는 MgO 보호막의 이차전자방출계수
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열 멸균법(Dry heat sterilization)----------------------------Ⅴ
1-1-3. 고압증기 멸균법(Autoclave)-------------------------------Ⅴ,Ⅰ
1-1-4. 자비 멸균법(Sterilization by boiling)--------------------------Ⅰ
1-2. 배지------------------------------------------------------Ⅰ,Ⅱ
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, 박수영 外, 시그마프레스, 1995
Encyclopedia of Chemical Technology Vol 10, kirk-Othmer, John Wiley& Sons, 1953
Chemical Industries, R.N.shreve, McGraw-Hill, 1972 1. 서론
2. 실험이론
3. 실험장치 및 시약조사
4. 실험방법
5. 결과예측
6. 참고문헌
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없었다. 스마트 커서를 사용했지만 이는 10-3까지 밖에 측정할 수 없다. 이는 부정확한 값을 내게 하는 하나의 요인으로 작용할 수 있다.
3. Reference
Halliday [Fundamentals of Physics] 6판, wiley
Giancoli [ Physics] 5판 1. 실험결과
2. Discussion
3. Reference
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실험에서는 순수한 활차의 질량과 그것이 얻은 힘에 의한 속도만으로 측정되지 못하고 외부의 미세한 다른 힘들의 작용으로 이론값에 최대한 가까운 측정값을 얻지 못하였다.
이런 원인으로 여러 오차를 생각해 볼 수 있었다.
1. 활차와 공기
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열 폭주를 일으켜 트랜지스터를 망가뜨릴 수 있다. 두 번째로는 자기 바이어스가 있는데 이것은 열 폭주를 방지해서 트랜지스터가 망가지지 않도록 해주는 역할을 하는 바이어스 회로라는 것을 알 수 있었다.
이 실험을 할 때는 여러 가지 변
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