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실험을 잘못하였는데 우리는 한번에 바이어스를 잘 잡았고 실험을 가장 빨리 끝냈다. 그래서 헤매고 있는 다른 조에게 우리 조 빵판을 빌려주기도 했다~.~ 너무너무 뿌듯하고 재미있는 실험이었다. 전자회로 시간에 재미있게 들었던 수업이라
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전자공학 3판』, 문선당, 2011, pp. 104-114. 1. 개요
1.1. 목적
2. 시스템 구성
2.1. 과제1-Full bridge converter
2.1.1. schematic 및 설정
2.1.2. simulation 결과
2.1.3. 이론값 및 결과분석
2.2. 과제2-Push-pull converter
2.2.1. schematic 및 설정
2.2.2. simulation 결과
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MOSFET S가 오프되고 다이오프 가 온되고, 다이오드 가 오프되는 구간 동안 를 통해서만 돌게 됩니다.
시뮬레이션 결과와 그 밑의 값을 통해 이론값과 실험값이 일치하여 나왔음을 볼 수 있었습니다.
3. 참고문헌
노의철 외 2명, 『전력전자공학 3
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사용이유를 실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다.
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실험에서 사용되는 MOSFET 트랜지스터나 릴레이와 같은 반도체 스위칭 장치로 구성된다.
우리 회로에서 사용된 IRF540 또한 MOSFET 트랜지스터이다.
이 회로에서 주의할 점은 아래 사진의 양방향 제어에서 스위치를 1,2,3,,4로 둘 때 1,3 번이 열리면
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회로의 동작점을 결정.
공핍형 MOSFET의 Zero바이어스 회로의 동작점을 결정.
증가형 MOSFET의 Drain 궤환 바이어스 회로의 동작점을 결정.
바이어스 동작점의 안정성을 이해.
FET (전계 효과 트랜지스터)
FET는 전자 전류와 정공 전류를 이용하는 B
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실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다. 1. 실험 결과정리
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전자제어기술을 배울 수 있었다. 제작과정에서 엔지니어로서의 자세와 마음가짐 그리고 그 애환을 알 수 있었다.
※참고자료
[1] (어셈블리와 C언어로 익히는)8051마스터 윤덕용 Ohm사 2001
[2] AVR ATmega128 마스터 윤덕용 Ohm사 2004
[3] 당근이의 AVR카
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실험
3-1 실험부품
① 저항 : 100Ω, 10KΩ
② 트랜지스터 : 2N3904
3-2 실험절차
① IB가 100uA가 되도록 VBB를 조정하고, VCC를 변화시키면서 IC를 측정한다.
② IB를 증가시키면서 2번의 과정을 반복한다.
4. PSpice 시뮬레이션 회로도
※ 전자회로실험 P.45
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전자회로및실험 4조 Project인
“전자주사위” 제작을 마치도록 하겠습니다. 목차
1. 제목
2. 팀구성
3. 작품 선정 및 배경 및 목적
4. 회로도
5. 주요 소요 부품 및 예산 지출
6. 일정
7. 작품 제작과정
8. 고찰 및 향후 발전 방향
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