|
대각선길이에서 겉넓이를 산출하여 하중을 이 넓이로 나눈 몫으로 나타낸다.
<참고문헌>
- 고고자료분석법 / 타구치 이사무, 사이토 츠토무 / 서경문화사 / 2007
- 문화재를 연구하는 과학의 눈 / 히라오 요시미츠 / 학연문화사 / 2001
|
- 페이지 7페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2009.09.21
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
X선의 발생 원리
3. X선 발생 장치의 작동원리
4. 연속 X선 원리
5. 특성 X-선 원리 (형광 X-선)
Ⅱ . X-선의 문화재에 대한 활용
1. X선 투과조사(X-ray Radiography)
2. X선 형광 분석
3. X선 회절분석
4. 주사전자현미경 분석
5. ICP발광분석법
Ⅲ
|
- 페이지 8페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2009.03.30
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
주사전자현미경
■ XRD(X-Ray Diffractometer), X선 회절분석기
■ 금속산화물 및 질화물의 합성 (질화알루미늄)
■ IR 의 원리(동작 원리)
■ 금속산화물의 특징
1.3.실험장치 및 시약
1.4. 실험방법
1.4.1. 전구물질의 합성
1.4.2. AlN
|
- 페이지 11페이지
- 가격 2,300원
- 등록일 2014.08.01
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
에너지 분산형 X선 측정기: Energy Dispersive X-ray Microanalysis)를 이용한 원소 분석.
2.6. 전자빔과 고분자소재와의 상호작용
2.7. 주사전자현미경 분석을 위한 시료 준비법
3. Transmission Electron Microscopy (TEM)
3.1. TEM의 기본 원리
3.2. TEM의 콘트라스트
|
- 페이지 23페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2007.08.02
- 파일종류 워드(doc)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
전자부품에서 오염물 확인 등에 이용
참고 문헌 및 참고 사이트
- 기기분석의 원리, 2000, Douglas A. Skoog지음, 박기채 옮김, 자유아카데미
- 분석화학 기기분석, 2000, 최재성, 동화기술
- 기기분석(완전개정판), 1983, 이대운, 대한교과서
- http://www1.s
|
- 페이지 45페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2007.11.22
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|